Анализатор LS 13 320 XR

В лазерном дифракционном анализаторе LS 13 320 XR установлено 132 детектора, которые совместно обеспечивают расширенный диапазон измерений от 10 нм до 3,500 мкм.

Расширенный диапазон измерений:

• 10 нм – 3,500 мкм
• Реальные (не экстраполированные) аналитические данные
• Вплоть до 10 нм, измерения с высоким разрешением
• Вплоть до 3,500 мкм.

Усовершенствованная технология PIDS:

Дифференциальное рассеяние поляризованного света обеспечивает более высокую точность первичных данных и повышенную чувствительность детектора к вертикально и горизонтально поляризованному рассеянному свету для анализа частиц субмикронных размеров. Недоступное ранее качество измерений.

Усовершенствованная автомодальность для получения правильных результатов не нужна предварительная информация о распределении частиц по размерам (например, количество фракций и пределы диапазона размеров)

Оптимизированное, интуитивное ПО

• Настройка измерений за 2 клика
• Встроенная база оптических констант
• Пользовательская диагностика
• Рационализация рабочего процесса для экономии времени

Анализатор LS 13 320 XR располагает специальными инструментами для инсталяционной (IQ) и операционной (OQ) валидации.